波長分散法を利用した微量元素のXAFS解析
問い合わせ番号
SOL-0000001585
ビームライン
BL37XU（分光分析）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 環境関連物質 |
| C. 手法 | 蛍光Ｘ線 |
| D. 手法の詳細 | XANES, 微量元素分析 |
| E. 付加的測定条件 | |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 局所構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 元素分布 |
| 階層5 |
分類
利用事例本文
本事例は，通常のXAFS測定に対し，検出系に分光結晶を配置するもので，これにより，従来では信号が埋もれてしまうような微量な元素からの蛍光X線を取り込むことができる。その結果，地球科学試料に典型的な，隣り合った元素，例えばマイナー量の鉄の中の極微量のマンガンのXAFS測定，といったようなことが行えます。図に示したのは，隕鉄中のオスミウムL3端の測定です。本法のように，アナライザー結晶を使って測定をすると，66ppmという微量な量の信号もS/Nよく収集することができ，XAFSによる議論が可能となるようなデータが得られることがわかりました。
図 アナライザー結晶を用いたオスミウムL3端XANESスペクトル
画像ファイルの出典
所内報
誌名
User Exp. Rep. 04B
ページ
166
測定手法
本事例は，試料前までは通常のXAFS測定と同じであるが，試料ー検出器間が異なる。試料からの蛍光X線は，ソーラースリットを通り，アナライザー結晶（Si 400）で分光される。信号は最終的に19素子SSDで検出され，XAFSスペクトルを得ています。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 シフト
測定装置
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上