波長分散法を利用した微量元素のXAFS解析
Inquiry number
SOL-0000001585
Beamline
BL37XU (Trace Element Analysis)
Scientific keywords
| A. Sample category | research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | environmental material |
| C. Technique | fluorescent X-rays |
| D. Technique (detail) | XANES, trace-element |
| E. Particular condition | |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | chemical state, local structure |
Industrial keywords
| level 1---Application area | |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | element distribution |
| level 5---Technique |
Classification
Body text
本事例は，通常のXAFS測定に対し，検出系に分光結晶を配置するもので，これにより，従来では信号が埋もれてしまうような微量な元素からの蛍光X線を取り込むことができる。その結果，地球科学試料に典型的な，隣り合った元素，例えばマイナー量の鉄の中の極微量のマンガンのXAFS測定，といったようなことが行えます。図に示したのは，隕鉄中のオスミウムL3端の測定です。本法のように，アナライザー結晶を使って測定をすると，66ppmという微量な量の信号もS/Nよく収集することができ，XAFSによる議論が可能となるようなデータが得られることがわかりました。
図 アナライザー結晶を用いたオスミウムL3端XANESスペクトル
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
User Exp. Rep. 04B
Page
166
Technique
本事例は，試料前までは通常のXAFS測定と同じであるが，試料ー検出器間が異なる。試料からの蛍光X線は，ソーラースリットを通り，アナライザー結晶（Si 400）で分光される。信号は最終的に19素子SSDで検出され，XAFSスペクトルを得ています。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
1 shift(s)
Instruments
References
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
With user's own instruments.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
With a great skill
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
More than ten shifts