2 新規物質、表面・ナノ結晶・ナノサイズ効果
2.1 フラーレン関連物質
カーボンナノチューブ生成触媒とシリコン表面の反応に関する光電子分光研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出158KB
本間 芳和     NTT物性科学基礎研究所
水溶性金属内包フラーレンGd@C82の電子密度レベルの詳細構造 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出324KB
高田 昌樹     名古屋大学大学院 工学研究科
電界効果型素子構造におけるフラーレン薄膜構造と物性の研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出557KB
谷垣 勝己     大阪市立大学大学院 理学研究科
2.2 ナノチューブ
単層カーボンナノチューブ内フラーレン結晶の分子配向転移 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出334KB
真庭 豊       東京都立大学 理学研究科
有機分子・カーボンナノチューブ複合化合物の精密結晶評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出396KB
竹延 大志     東北大学 金属材料研究所
アルミニウム珪酸塩ナノチューブとナノ粒子の表面化学修飾に伴う構造変化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出348KB
高原 淳       九州大学 先導物質化学研究所
2.3 ナノ高分子材料、有機半導体等
視射角入射X線回折による有機ナノエレクトロニクス材料の界面構造評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出246KB
高原 淳       九州大学 先導物質化学研究所
擬二次元有機超伝導体κ-(BEDT-TTF)2Cu[N(CN)2]Brの軟X線光電子分光 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出230KB
伊藤 孝寛      理化学研究所 播磨研究所
フルオロアルキレン鎖を含む
            直鎖状脂肪族ポリエステルの溶融-等温結晶化過程におけるナノ構造評価
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出215KB
佐々木 園      九州大学大学院 工学研究院
2.4 ナノサイズ効果、ナノ結晶等
高精度超小角散乱による無機ナノ凝集体解析(2) ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出203KB
石本 竜二     株式会社 トクヤマ
高圧下でのXAFSによるZrO2ナノ粒子の圧力誘起相転移の観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出161KB
大高 理      大阪大学大学院 理学研究科
化学的に合成したFeナノ粒子の熱処理による効果 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出217KB
大庭 卓也     島根大学 総合理工学部
応力発光体SrAl2O4:Eu2+球状微粒子の精密構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出223KB
徐 超男      産業技術総合研究所
キャリアを注入したクラスレ−ト化合物の軟X 線光電子分光 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出665KB
谷垣 勝己     大阪市立大学大学院 理学研究科
2.5 表面ナノ構造、電極表面構造、表面化学
超平坦結晶上の酸化物ナノ構造の格子歪のX線回折による測定 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出232KB
吉本 譲       東京工業大学 応用セラミックス研究所
In/Cu(001)表面における電荷密度波相転移の精密構造解析研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出178KB
有賀 哲也     京都大学 理学研究科
不動態化したNi(111)電極およびZnが
            単層電着(UPD)したNi(111)電極の表面構造解析と化学特性
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出189KB
伊藤 正時     慶応義塾大学 理工学部
Ti表面酸化による極薄不動態膜形成過程の解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出185KB
高桑 雄二     東北大学 多元物質科学研究所
表面X線散乱法による単結晶金属電極/溶液界面のその場構造追跡
           -Au(111)及びAu(100)単結晶電極極表面の酸化膜形成/還元反応の追跡
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出216KB
魚崎 浩平     北海道大学大学院 理学研究科
2.6 超伝導体等
ナノデバイス用超伝導ウィスカーの化学状態分析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出226KB
岸田 悟      鳥取大学 工学部
金属間化合物超伝導体MgB2薄膜の構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出249KB
久保 衆伍     島根大学 理総合工学部
2.7 強誘電体等
強誘電体LiTaO3の室温強誘電相の精密電子密度解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出243KB
笠谷 祐史      静岡理工科大学 物質科学科
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