大型放射光施設 SPring-8

日時：
2011年11月24日(木)10:15 ～ 11月25日(金)　測定終了次第終了

会場：
大型放射光施設 SPring-8 
　講義：中央管理棟　1階　上坪講堂
　実習(測定)：蓄積リング棟　実験ホールBL14B2

内容：

対象者：
SPring-8初心者で、主に産業分野でのXAFS測定をご計画中の方

定員：
約5グループ (1グループ2名以内）
持込み試料が無い見学のみでの参加は出来ません。持込み試料について組成・形態・数量等について正確にご記入下さい。申込者多数の場合の判断基準となります。透過法または多素子半導体検出器を使用した蛍光法によるXAFS測定に適さないなど実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。これまでに開催した同様の研修会に参加されたことが無い方を優先します。申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、全ての申込者に参加の可否についてご連絡致します。申込順ではありませんのでご注意下さい。（お早めにお申し込み頂いた場合でもご参加頂けない場合があります。）同じ所属の方が参加を希望される場合、先着2名までとさせて頂きます。定員になり次第募集を締め切ります。

申込方法：
定員に達しましたので締め切りました。

その他：
注意事項
•持ち込み試料の制限は以下の通り
- 持ち込み試料は1グループ10サンプル以内（ただし、1グループの持ち時間は、蛍光法の場合、装置調整を含め2～3時間を予定しています。透過法のみの場合は、1～2時間程度を予定しています。）
- 安全、法規上問題のないもの
- 汚染、破損、紛失しても構わないもの
※申込者多数の場合は、放射光施設関係者の方などは、ご参加頂けない場合があります。
※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。申込者多数の場合の判断基準にします。
※申込者多数の場合は、自動XAFS測定システムの利用が可能な持ち込み試料(粉末試料など)の方を優先します。
※実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。
※実習日以前に、測定試料等について事前に打合せをさせて頂くことがあります。
※データ持ち帰り用に、USBメモリー（空き容量1GB以上）を持参して下さい。
•本研修会の参加にはSPring-8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。
※ 手続きに関する案内は、参加受付後ご連絡差し上げます。
•研修会参加者は事前に下記文献を参照のこと。
- XAFS測定: 宇田川康夫編、『X線吸収微細構造　XAFSの測定と解析』学会出版センター
　　　　　　（ただし、残念ながら絶版となっております）
　　　　　　大田俊明編、『Ｘ線吸収分光法－XAFSとその応用－』アイピーシー
- BL14B2: T. Honma, H. Oji, S. Hirayama, Y. Taniguchi, H. Ofuchi and M. Takagaki, AIP Conf. Proc. 1234 (2010) 13-16.
•学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。
•参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。
•研修会への参加は無料です。
•研修会参加者への旅費支給等はありません。
•申込者多数の場合の実習への参加の可否の調整は、当方での調整に一任願います。
•申込者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。
•前日および当日に滞在が必要な方は、SPring-8交流施設をご利用いただけます(2,000円/日)。

問合せ先：
ご質問、ご要望はメールにてお願いします。

実習担当： （内容等について）
   (財)高輝度光科学研究センター
   産業利用推進室 担当：
   本間　e-mail : honma@spring8.or.jp
   高垣　e-mail : takagaki@spring8.or.jp

事務担当： （手続き等について）
   (財)高輝度光科学研究センター
   研究調整部 研究業務課
   担当：當眞、中塚、守屋
   TEL：0791-58-0839, FAX：0791-58-0988
   e-mail : workshops@spring8.or.jp