SPring-8研修会
| 主題/内容 | 初中級者を対象としたXAFS測定研修会 | |||||||||||||||||||
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| 開催期間 | 2017年11月28日 (火) 10時10分から23時00分まで | |||||||||||||||||||
| 開催場所 | 講義:中央管理棟1階上坪講堂、実習(測定):蓄積リング棟実験ホールBL14B2 | |||||||||||||||||||
| 主催 | (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI) | |||||||||||||||||||
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| 概要 |
主にSPring-8の利用経験が無い産業界の方を対象として、産業利用ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。 日時:2017年11月28日(火)10:10 ~ 測定終了次第研修会終了 会場:大型放射光実験施設 SPring-8 |
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| プログラム |
対象者:主にSPring-8の利用経験が無く、XAFS測定が初中級者の産業界の方(2017B第2期以 降に申請中または申請を計画している方) 定員:約5グループ (1グループ3名以内) 申込み方法: 申込み締め切り: ユーザー持込試料: その他の注意事項: 問合せ先:ご質問、ご要望はメールにてお願いします。 |
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