SPring-8, the large synchrotron radiation facility

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Sr2RuO4のフェルミ面構造

  • Only SPring-8
  • For beginners

Inquiry number

SOL-0000001301

Beamline

BL08W (High Energy Inelastic Scattering)

Scientific keywords

A. Sample category inorganic material
B. Sample category (detail) metal, alloy, superconductor, magnetic material, solid-state crystal
C. Technique inelastic scattering
D. Technique (detail) Compton scattering
E. Particular condition polarization (linear), room temperature
F. Photon energy X-ray (> 40 keV)
G. Target information electronic state

Industrial keywords

level 1---Application area storage device
level 2---Target HD,MO
level 3---Target (detail)
level 4---Obtainable information electronic state
level 5---Technique X-ray diffraction

Classification

A80.12 semiconductor, A80.14 magnetic materials

Body text

コンプトン散乱測定は電子運動量分布を調べることのできる有効な手法です。この手法を用いることで、物質のフェルミ面の形状などの電子構造や各軌道の電子数などを測定することができます。測定は、バルク測定であり、雰囲気や温度、磁場などの試料の環境に影響されません。
プロファイルを再構成することにより2次元、3次元の電子運動量密度の測定が可能です。図に示すのは、実験により得られたSr2RuO4の二次元電子運動量密度分布です。

図 Sr2RuO4の二次元電子運動量密度分布

Source of the figure

Beamline Report

Page

35

Technique

コンプトン散乱実験は、単色のX線を試料に入射し、散乱してきたX線のエネルギープロファイルを測定します。
散乱されたX線は、電子の運動量のドップラー効果によりエネルギーに広がりを持ちます。このエネルギープロファイルが、電子運動量分布を直接的に対応しており、コンプトンプロファイル J(pz) と呼ばれます。プロファイルの積分値は試料の全電子数になります。

Source of the figure

No figure

Required time for experimental setup

4 hour(s)

Instruments

Instrument Purpose Performance
高分解能コンプトン散乱スペクトロメーター 測定 運動量分解能 0.14a.u.

References

Document name
N. Hiraoka, et.al., Physical Review B, 67 (2003) 94511

Related experimental techniques

陽電子消滅法、角度分解光電子分光、電子散乱

Questionnaire

The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Similar experiments account for more than 30% of the beamline's subject.

Ease of measurement

Easy

Ease of analysis

Middle

How many shifts were needed for taking whole data in the figure?

More than ten shifts

Last modified