テーマN10 極薄金属酸化膜の形成とその光電子分光解析 (BL23SU)
Au(111)ナノ表面における超熱O2分子線酸化過程の光電子分光研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,604KB
笠井 俊夫     大阪大学大学院 理学研究科
高分解能光電子分光とSTMによるナノスケール選択酸化Si(111)表面の観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,255KB
三木 一司     産業技術総合研究所
Ti(0001)表面での極薄酸化膜形成への酸素分子並進運動エネルギーの効果 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,440KB
高桑 雄二     東北大学 多元物質科学研究所
テーマN11 高精度小角散乱によるナノ凝縮体解析 (BL15XU)
超小角X線散乱法(U-SAXS)によるナノ粒子の粒度分布解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,381KB
橋本 久之     電気化学工業株式会社 研究分析センター
異常小角散乱法による非平衡固体からのナノ粒子形成過程の評価 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,414KB
鈴木 茂       東北大学 多元物質科学研究所
選択的X線発光・吸収分光法によるイルメナイト系Ti酸化物の電子構造解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,042KB
藤井 達生     岡山大学 工学部
ナノスケール制御されたTi3+含有酸化物発光体の発光機構の解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,674KB
寺嶋 孝仁      京都大学 化学研究所
テーマN12 高エネルギー内殻光電子分光 (BL15XU)
光電子分光法によるヘマタイト-イルメナイト固溶体の電子構造解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,952KB
藤井 達生     岡山大学 工学部
ナノデバイス用超伝導ウィスカーの化学状態分析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,352KB
岸田 悟      鳥取大学 工学部
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