テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価 (BL02B2)
ナノフィラーとその高分子ナノハイブリッドの凝集構造解析 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究2,249KB
高原 淳       九州大学大学院 工学府
カーボンナノチューブ内の液体の構造と相転移 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1,491KB
真庭 豊       東京都立大学 理学研究科
化学的に合成したFeナノ粒子の熱処理による効果 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,484KB
大庭 卓也     島根大学 総合理工学部
粉末X線回折測定による配位高分子結晶のミクロ孔でのガス分子集積状態観測 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,022KB
北川 進       京都大学大学院 工学研究科
有機分子・カーボンナノチューブ複合材料の構造 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1,858KB
竹延 大志     東北大学 金属材料研究所
トランス-1、4-シクロヘキサンジカルボン酸銅およびそのトルエン吸蔵体の構造と相転移 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,292KB
川路 均       東京工業大学 応用セラミックス研究所
ゲート絶縁膜上のIV族ナノクラスタ薄膜の構造的研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,489KB
谷垣 勝己     大阪市立大学大学院 理学研究科
応力発光体SrAl2O4:Eu2+の示す異方的な弾性特性 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,407KB
徐 超男      産業技術総合研究所
 
テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー (BL47XU)
磁場中凝固・電気化学処理を組み合わせたマイクロ・ナノポーラス材料中の
           高アスペクト比ポアーの3次元観察と評価
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,434KB
安田 秀幸     大阪大学大学院 工学研究科
先進ポーラス材料のミクロ構造のX線CTによる可視化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,409KB
戸田 裕之      豊橋技術科学大学 生産システム工学系
先進MEMSデバイスの三次元複雑構造のX線CTによる可視化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,566KB
戸田 裕之     豊橋技術科学大学 生産システム工学系
テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光 (BL27SU)
SiO2/Si界面における組成・構造遷移層 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1.971KB
服部 健雄     武蔵工業大学 工学部
MOSデバイスの酸化物/半導体界面における電子状態の軟X線発光分光法による直接観測 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1.146KB
山下 良之     東京大学 物性研究所
ピックアップ法を用いたクラスター付着分子のイオン化技術の開発 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,607KB
本間 健二      姫路工業大学 理学部
高精度角度分解光電子分光法によるCVD-ZrN膜の電子構造の解析 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,920KB
鈴木 貴志     株式会社 富士通研究所
軟X線発光分光法による単層カーボンナノチューブの研究 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,299KB
辛 埴         東京大学 物性研究所
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