テーマN1 磁気記憶材料等の元素別磁化測定 (BL39XU)
高計数率共鳴X線磁気回折システムを用いたCo/Cu/Gd/Cu人口格子の磁気構造 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,047KB
細糸 信好     奈良先端科学技術大学院大学 物質化学教育研究センター
CoCrPt垂直磁気記録膜のPtL-吸収端のXMCD ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,033KB
大沢 通夫     富士電機アドバンステクノロジー株式会社
光電子顕微鏡を用いた硬X線イメージング ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,577KB
小野 寛太     高エネルギー加速研究機構 物質構造科学研究所
テーマN2 半導体等ナノ薄膜の表面・界面構造解析 (BL13XU)
視斜角入射X線回折による有機半導体薄膜の表面ナノ構造評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,142KB
高原 淳       九州大学 先導物質化学研究所
ナノサイズアルミニウム配線のエレクトロマイグレーション誘起ひずみの挙動 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1.337KB
英 崇夫       徳島大学 工学部
自己組織化ポーラスアルミナ・ナノホール配列に埋め込み形成した
           強磁性体ナノ構造体の結晶構造解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,223KB
新宮原 正三    広島大学 先端物質科学研究科
Cu(111)電極表面に形成されている新しい水の表面構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,465KB
伊藤 正時     慶応大学 理工学部
圧電体膜の電界誘起ドメインダイナミックスのin-situ測定 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,370KB
舟窪 浩       東京工業大学大学院 総合理工学研究科
テーマN3 新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定 (BL25SU)
Au(788)微傾斜表面上の遷移金属ナノ構造の磁性 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,111KB
川合 真紀     理化学研究所
IV-VI族希薄磁性半導体Ge1-xMnxTeのMn2p-3dXMCD ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,281KB
佐藤 仁      広島大学 放射光科学研究センター
Mn-Pt/NiFeおよびMn-Ir/NiFe交換結合膜の交換異方性に関する研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,576KB
加藤 剛志     名古屋大学大学院 工学研究科鳥取大学 工学部
c(2×2)CuMn/Cu(001)表面二次元合金の表面磁性研究:Mn2p内殻吸収磁気円二色性 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,792KB
木村 昭夫     広島大学大学院 理学研究科
ゼロ磁化強磁性体(Sm,Gd)Al2の円偏光スイッチングによるSmM4,5内殻吸収磁気円二色性
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,075KB
喬 山        広島大学 放射光科学研究センター
次元を制御したクラスレート化合物の軟X線光電子分光 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,817KB
谷垣 勝己     大阪市立大学大学院 理学研究科
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