テーマN7 蛍光X線分析法による微量元素マッピング (BL37XU)
放射光マイクロビームを用いた微量元素による活性酸素発生と炎症発生機構との相関解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,599KB
白川 太郎     京都大学大学院 医学研究科
蛍光x線ホログラフィー法による希薄性半導体Zn1-xMnxTeの局所構造分析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,201KB
細川 伸也     マルブルク大学
マイクロビームを用いたXRF法によるケイ質堆積物・チャート中の希土類元素の分布状態 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,831KB
高橋 嘉夫     広島大学大学院 理学研究科
蛍光X線分析による有機スズ化合物の組織局在の解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,446KB
武田 志乃      放射線医学総合研究所
蛍光X線ホログラフィーによる鉄合金中微量銅周辺の局所構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,248KB
松原 英一郎    東北大学 金属材料研究所
ファイトレメディエーション植物に蓄積した重金属元素の蛍光X線マイクロビームイメージング ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,625KB
中井 泉        東京理科大学 理学部
 
テーマN8 核共鳴散乱法による局所構造と電子状態の研究 (BL11XU)
次世代磁気記録メディアPtFe合金薄膜のフォノン
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,185KB
角田 頼彦     早稲田大学 理工学部
核共鳴散乱を用いた鉄貯蔵蛋白質フェリチンにおける鉄の貯蔵プロセスの研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,837KB
春木 理恵      高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所
テーマN9 電気化学における固/液界面構造解析 (BL14B1)
XAFS study of pressure-induced changes in Ge-Sb-Te layers
       used for near-field optiocal recording below the diffraction limit
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,915KB
Kolobov,Alexander   National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
表面X線回折法を用いた単結晶リチウム電池正極材料表面の精密構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,106KB
菅野 了次     東京工業大学大学院 総合理工学研究科
超音波還元Au-Pb超微粒子のEXAFSによる研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,102KB
岩瀬 彰宏     大阪府立大学 先端科学研究所
ナノサイズアモルファスシリカ微粒子の高圧化における構造変化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,517KB
内野 隆司     神戸大学 理学部
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