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テーマN1 磁気記憶材料等の元素別磁化測定（BL39XU） |
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円偏光共鳴X線磁気回折法による間接交換結合Fe/Au金属多層膜の中間磁場領域でのAu層磁気分極分布 |
 1.0MB |
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細糸 信好 奈良先端科学技術大学院大学 物質科学教育研究センター |
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XMCD measurements on thiol capped gold and silver nanoparticles |
374KB |
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Garitaonandia Jose University of The Basque Country(UPV/EHU)Applied Physics II |
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CoPt合金のPtL2,3-edges XMCDによるPt磁気状態の膜厚依存性 |
1.3MB |
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石松 直樹 広島大学大学院 理学研究科 |
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テーマN2 半導体等ナノ薄膜の表面・界面構造解析（BL13XU） |
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基板上で形状制御された強誘電体PbTiO3ナノアイランドの結晶構造とサイズ効果 |
1.1MB |
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清水 勝 兵庫県立大学大学院 工学研究科 |
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格子緩和を制御した強誘電体BaTiO3薄膜の格子歪み評価 |
1.5MB |
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菅 大介 京都大学 化学研究所 |
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微細加工されたSiGeおよびGe細線構造における局所歪揺らぎの検出 |
999KB |
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酒井 朗 名古屋大学大学院 工学研究科 |
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放射光を利用したLa系酸化物薄膜のX線回折 |
1.1MB |
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角嶋 邦之 東京工業大学大学院 総合理工学研究科 |
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テーマN3 新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定（BL25SU、BL17SU） |
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分光型光電子・低エネルギー電子顕微鏡による微小構造の電子状態分析 |
916KB |
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尾嶋 正治 東京大学大学院 工学系研究科 |
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磁気円二色性を用いた異種金属内包フラーレンの元素選択的磁化解析 |
806KB |
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篠原 久典 名古屋大学大学院 理学研究科 |
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放射光励起内殻光電子のケミカルイメージングによる表面反応過程 |
1.1MB |
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越川 孝範 大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所 |
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Au(111)微傾斜表面上の3d遷移金属ナノ構造における磁気構造 |
1.6MB |
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川合 真紀 理化学研究所 |
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二次元XAFS法による銅酸化物高温超伝導体の電子状態の深さ分解解析 |
1.4MB |
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松井 文彦 奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学研究科 |
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テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価（BL02B2） |
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ナノポーラス物質MOF-5（ZN4O(O2CC6H4CO2)3）中の吸蔵ベンゼンの構造と相転移 |
893KB |
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川路 均 東京工業大学 応用セラミックス研究所 |
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チタン酸バリウムナノ粒子におけるメゾスコピック粒子構造由来の巨大誘電特性発現機構の解明 |
2.8MB |
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和田 智志 東京工業大学大学院 理工学研究科 |
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酸性吸着サイトを持つ多孔性配位高分子による水素吸着メカニズムの解明 |
1.2MB |
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北川 進 京都大学大学院 工学研究科 |
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新規III-IV族クラスレート熱電変換材料の精密構造解析 |
1.1MB |
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谷垣 勝己 東北大学大学院 理学研究科 |
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Pd-Agナノ粒子の水素圧力下の構造 |
2.0MB |
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山内 美穂 九州大学大学院 理学研究院 |
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1500℃級ガスタービン用Ni基超合金のクリープ・疲労損傷に伴うナノスケール組織変化分析と材質劣化原因の解明 |
932KB |
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鈴木 研 東北大学大学院 工学研究科 |
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特異な相互作用部位を持つ多孔性錯体に吸着した酸素分子の直接観察 |
817KB |
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小林 達生 岡山大学 理学部 |
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スピンクロスオーバーCo錯体の原子価互変異性に誘起される動的構造変化 |
841KB |
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松田 亮太郎 九州大学 先導物質化学研究所 |
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金電極上に自在に配列制御された一次元共役鎖のX線による構造解析 |
1.3MB |
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西原 寛 東京大学大学院 理学系研究科 |
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ナノ細孔中酸素分子1次元アレイの構造解析 |
1.3MB |
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加納 博文 千葉大学 理学部 |
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Effect of Structure Change of LiNi0.5Mn0.5O2 by Exposing to High Voltage on Battery Performance |
734KB |
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Shao-Horn, Yang Massachusetts Institute of Technology Department of Mechanical Engineering |
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テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー（BL47XU） |
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ホモロガス相Sb-Te，Bi-Te化合物の高分解能硬X線光電子分光 |
1.5MB |
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木舩 弘一 大阪府立大学 総合教育研究機構 |
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硬X線光電子分光法による相変化光ディスクの記録膜と界面層の相互作用の解析 |
1.2MB |
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中居 司 株式会社東芝 |
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硬X線光電子分光を用いた強相関ナノ構造の電子状態研究 |
1.4MB |
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組頭 広志 東京大学大学院 工学系研究科 |
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Direct Observation of d-band Structure Change during Metal-Insulator Transition of LiCoO2 |
248KB |
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Shao-Horn, Yang Massachusetts Institute of Technology Department of Mechanical Engineering |
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硬X線光電子分光による高効率磁気トンネル接合材料の電子構造の検証 |
1.1MB |
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木村 昭夫 広島大学大学院 理学研究科 |
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テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光（BL27SU、BL17SU） |
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有機ケイ素分子のSi:ls光イオン化後のサイト選択的解離へのカスケードオージェ過程の影響の研究 |
2.9MB |
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長岡 伸一 愛媛大学 理工学研究科 |
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内殻励起により生成されるオージェ終状態のアルゴントライマーからのICD電子放出 |
1.7MB |
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森下 雄一郎 産業技術総合研究所 |
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ラジカル窒化により形成したSi3N4/Si界面における価電子帯オフセット |
1.1MB |
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服部 健雄 東北大学 未来科学技術共同研究センター |
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テーマN7 蛍光X線分析法による微量元素マッピング（BL37XU） |
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自動車排出ナノ粒子のマウス経気曝露による嗅覚系ニューロンを介在した金属ナノ粒子曝露経路の探索 |
1.1MB |
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内山 巌雄 京都大学 工学研究科 |
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SR-XRFによる生物試料中ウランの測定 |
936KB |
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武田 志乃 放射線医学総合研究所 |
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In蛍光X線を用いたGaInN量子井戸の結晶評価IV |
916KB |
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宮嶋 孝夫 ソニー株式会社 |
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徳島およびルーマニア ブカレストで採取された大気粉塵試料のマイクロXAFS測定 |
1.1MB |
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薮谷 智規 徳島大学 工学部 |
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SOFCモデル電極のマイクロXANES測定 |
3.0MB |
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川田 達也 東北大学大学院 環境科学研究科 |
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テーマN8 核共鳴散乱法による局所構造と電子状態の研究（BL11XU） |
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核共鳴散乱法を用いたCr系ナノ薄膜における磁気的フラストレーション効果の探査と解明 |
1.6MB |
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壬生 攻 名古屋工業大学大学院 工学研究科 |
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テーマN9 電気化学における固／液界面構造解析（BL14B1） |
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X-Ray absorption study of local order changes in the Sb2Te solid-liquid phase transition |
243KB |
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Fons Paul 産業技術総合研究所 |
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リチウムイオン電池における電極表面の充放電反応下でのその場構造解析 |
1.6MB |
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菅野 了次 東京工業大学大学院 総合理工学研究科 |
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テーマN10 極薄膜形成過程とその場光電子分光解析（BL23SU） |
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超熱酸素分子線によるCu(511)表面酸化過程における表面ステップ構造効果の光電子分光による解明 |
847KB |
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岡田 美智雄 大阪大学大学院 理学研究科 |
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共鳴光電子分光法によるCe添加In2O3系透明電極薄膜の電子状態解析 |
796KB |
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渋谷 忠夫 出光興産株式会社 |
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光電子分光・軟X線吸収による強磁性混晶遷移金属化合物の電子状態の研究 |
1.0MB |
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牧野 哲征 兵庫県立大学 理学部 |
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シリコン熱酸化過程における欠陥準位の挙動のリアルタイム光電子分光観察 |
3.7MB |
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高桑 雄二 東北大学 多元物質科学研究所 |
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Si(110)表面上の極薄酸化膜形成時における特異な酸化反応過程の放射光・光電子分光による解析 |
1.5MB |
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末光 眞希 東北大学 学際科学国際高等研究センター |
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二段階集光光学系によるマイクロビームの生成と三次元磁気解析の可能性 |
1.2MB |
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雨宮 健太 高エネルギー加速器研究機構 |
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少数層多層カーボンナノチューブにおける表面修飾の軟X線光電子分光による研究 |
1.5MB |
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前田 文彦 NTT物性科学基礎研究所 |
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テーマN11 高精度小角散乱によるナノ凝縮体解析（BL15XU） |
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鉄ベース合金ナノ粒子のＸ線異常散乱を利用した小角散乱および粉末回折精密測定 |
2.0MB |
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篠田 弘造 東北大学 多元物質科学研究所 |
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テーマN12 高エネルギー内殻光電子分光（BL15XU） |
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高分解能硬X線光電子分光法を用いたリチウム二次電池用材料LiNi1/3Mn1/3Co1/3O2の表面状態分析 |
985KB |
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小林 弘典 産業技術総合研究所 |
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Hf酸化膜のバンドギャップに及ぼす酸素欠損と混入炭素の影響 |
1.2MB |
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三浦 英生 東北大学大学院 工学研究科 |
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Investigation of Correlation Between Electronic Structure and Discharge Characteristic in Magnesium Oxide Thin Film on Various Temperature by using Hard X-ray Photoemission Spectroscopy |
748KB |
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朴 英吉 Samsung SDI Co.,Ltd. |
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硬X線光電子分光法による金属/極薄High-k絶縁膜/Si積層構造の界面電子状態 |
1.3MB |
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大毛利 健治 物質・材料研究機構 |
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テーマN13 原子層制御結晶成長過程のその場観察（BL11XU） |
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GaAsSb系バッファ層を導入した自己形成InAs量子ドットの時間分解X線回折測定 |
968KB |
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山口 浩一 電気通信大学 電気通信学部 |
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