BL番号と名称 |
担当者 |
BL01B1 XAFS I
- 広エネルギー領域 (3.8 - 113 keV)
- 希薄・薄膜試料のXAFS
- クイックスキャンによる時分割XAFS (時分割QXAFS)
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加藤 和男
片山 真祥
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BL02B1 単結晶構造解析
- 高分解能データによる精密構造解析
- 微小単結晶構造解析
- 外場応答による構造相転移の探索
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中村 唯我
一柳 光平
Maity Sumit
佐々木 俊之 |
BL02B2 粉末結晶構造解析
- 結晶性物質における物性に密接に関連した電子密度レベルでの精密構造研究
- 構造相転移の研究
- 粉末回折データを用いた構造決定
- リートベルト法による構造精密化
- その場・オペランド粉末構造計測(低温/高温下ガス溶媒雰囲気、MPa圧力印加下、光照射下など)
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河口 彰吾
山田 大貴
小林 慎太郎
森 祐紀 |
BL03XU フロンティアソフトマター開発産学連合(フロンティアソフトマター開発専用ビームライン産学連合体)
- 有機・高分子薄膜の研究開発
- ソフトマター・高分子分野におけるバルク、繊維、フィルム材料の研究開発及び製造プロセスの技術革新
- 大型持込装置を用いた環境制御下における構造変化の追跡
- Å~μmオーダー領域の同時計測による階層構造変化の追跡
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増永 啓康 |
BL04B1 高温高圧
- 大容量プレスと電気抵抗加熱による高温高圧下その場測定
- 20-150 keVの白色X線を用いたエネルギー分散型粉末X線回折(2θ = 3-16°)
- 30-60 keVの単色X線を用いた二次元X線回折(2θ = <10°)
- X線吸収イメージング
- 高温高圧環境下での弾性波速度測定
- 高温高圧環境下での変形実験
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肥後 祐司
辻野 典秀
柿澤 翔 |
BL04B2 高エネルギーX線回折
- ガラス、液体、アモルファス物質の構造解析
- 61, 113 keVの高エネルギーX線を用いたX線回折
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山田 大貴
下野 聖矢
Jo-chi Tseng |
BL05XU 施設開発ID I
- 小角・広角X線散乱による構造解析
- 光源・光学系開発
- 放射光計測技術開発
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林 雄二郎 |
BL07LSU 施設開発ID II
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大浦 正樹
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BL08W 高エネルギー非弾性散乱
- 磁気コンプトン散乱測定
- 高分解能コンプトン散乱測定
- 高エネルギーX線回折
- 高エネルギーX線蛍光分析 (XRF)
- 時分割PDF解析
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辻 成希
山田 大貴
下野 聖矢
Jo-chi Tseng
水野 勇希 |
BL08B2 兵庫県 BM(兵庫県)
- 小角X線散乱
- X線イメージング
- X線CT
- X線トポグラフィー
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横山 和司
津坂 佳幸
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BL09XU HAXPES I
- 高エネルギー分解能による埋もれた界面の電子状態解析
- 吸収端を利用した共鳴励起による元素・軌道選択電子状態解析(共鳴HAXPES)
- 集光ビーム利用と角度分解測定による局所3次元空間分解電子状態解析
- ダイヤモンドX線移相子を用いた偏光依存光電子分光
- 低温下の光電子計測による物性科学および応用材料科学
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髙木 康多
保井 晃
唐 佳藝 |
BL10XU 高圧構造物性
- ダイヤモンドアンビルセルを用いた高圧下でのX線結晶構造解析
- 複合極限環境下におけるその場/オペランド構造変化探索と圧縮挙動解明
- 高圧地球科学・惑星科学
- 高圧物質科学
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門林 宏和
柿澤 翔
河口 沙織
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BL11XU QST 極限量子ダイナミクスI(量子科学技術研究開発機構)
- メスバウア分光
- 共鳴非弾性X線散乱
- X線発光分光
- 表面X線回折(III-V族半導体結晶成長のその場観察)
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三井 隆也
石井 賢司 |
BL12XU NSRRC ID(台湾 NSRRC)
- 高分解能非共鳴X線非弾性散乱 (NRIXS) による固体内の素励起、準粒子の挙動, 電子相関効果等の研究
- Low-Z物質 (有機化合物、生体物質等) の吸収端 (C,O等) における高分解能X線ラマン散乱による局所電子構造の研究
- 高圧下での相転移の研究
- 高分解能X線発光分光による物質の電子状態の研究
- X線分光学の研究
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平岡 望
Ku-Ding TSUEI
吉村 政人 |
BL12B2 NSRRC BM(台湾 NSRRC)
- X線吸収分光
- 粉末X線回折
- 高分解能X線散乱
- 蛋白質構造解析
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石井啓文
Yen-Fa LIAO
吉村政人 |
BL13XU X線回折・散乱I
- 材料構造解析、プロセス観察
- 薄膜・バルク材料・ナノスケール材料の原子レベルでの構造解析
- 高分解能粉末回折
- 高エネルギーX線回折
- in-situ/operando環境下でのX線回折
- ナノビームX線回折を用いた局所構造解析
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隅谷 和嗣
小金澤 智之
河口 彰吾
今井 康彦
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BL14B1 QST 極限量子ダイナミクスII(量子科学技術研究開発機構)
- 水素材料を中心とした高温高圧下X線回折
- 希薄試料XAFS
- 時分割エネルギー分散型XAFS
- 生物照射研究
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齋藤 寛之
城 鮎美 |
BL14B2 XAFS II
- 広帯域XAFS測定(3.8-72keV)
- 希薄・薄膜試料のXAFS測定
- クイックスキャンによる時分割XAFS測定
- X線イメージング
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大渕 博宣
渡辺 剛
梶原 堅太郎
漆原 良昌
高垣 昌史 |
BL15XU 理研 物質科学III
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大隅 寛幸 |
BL16XU 理研 分析科学I
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小金澤 智之 |
BL16B2 理研 分析科学II
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梶原 堅太郎 |
BL17SU 理研 物理科学III
- 走査型軟X線分光顕微鏡 --- A3 station
低真空〜He大気圧下における試料表面の顕微分光観察
局所領域の蛍光X線分析、元素分布マッピング、軟X線吸収分光が可能
- ユーザー持ち込みエリア--- Bc station 集光ビームが利用可能
汎用型光電子顕微鏡を用いた電子/磁気状態イメージング(分解能 100 nm未満)
およびその時間分解測定
汎用型光電子顕微鏡との置き換えによるユーザー持ち込み装置実験も可能
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大浦 正樹
伊奈 稔哲
山神 光平 |
BL19LXU 理研 物理科学II
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玉作 賢治
久保田 雄也 |
BL19B2 X線回折・散乱II
- 残留応力測定、 薄膜構造解析、表面、界面
- 粉末X線回折
- X線トポグラフィ
- 小角X線散乱(極小角散乱)
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大坂 恵一
Rosantha Kumara
仲谷 友孝
伊藤 華苗
桑本 滋生 |
BL20XU 医学・イメージングII
- Ⅹ線マイクロ/ナノイメージング:マイクロCT、ナノCT、屈折・位相コントラストイメージング、Ⅹ線回折CT(XRD-CT)、マイクロビーム/走査型顕微鏡
- 各種Ⅹ線光学系・光学素子の研究開発・評価、コヒーレント光学実験
- 極小角散乱
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竹内 晃久
上椙 真之
佐田 侑樹 |
BL20B2 医学・イメージングI
- X線マイクロCT/ラミノグラフィ、位相CT、リアルタイムイメージング(吸収・屈折コントラスト)、高速度イメージング、微小血管造影、小動物を用いた実験
- 光学素子の評価、X線イメージングの基本技術の研究開発
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上杉 健太朗
星野 真人 |
BL22XU JAEA 重元素科学I(日本原子力研究開発機構)
- XAFS
- HAXPES
- 残留応力測定
- 高温高圧X線回折・X線吸収
- 水素雰囲気下での原子二体分布関数(PDF)測定
- コヒーレントX線散乱・共鳴X線回折
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谷田 肇
小林 徹
小畠 雅明 |
BL23SU JAEA 重元素科学II(日本原子力研究開発機構)
- 超音速分子線を用いた表面化学
- 光電子分光
- 磁気円二色性
- 生物物理分光
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藤森 伸一
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BL24XU 兵庫県 ID(兵庫県)
- 放射光利用の産業応用を主軸としたビームライン運営
- B1ステーション
X線マイクロ~ナノビーム応用(走査型顕微鏡、蛍光分析)
X線顕微鏡を用いたイメージング実験(ナノイメージング、CT)
- B2ステーション
高平行X線マイクロビーム応用(高精度回折計)
明視野X線トポグラフィ
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(公財)ひょうご科学技術協会 放射光研究センター 事務局
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BL25SU 軟X線固体分光
- 光電子分光(PES)、角度分解光電子分光(ARPES)による電子状態・バンド構造の研究
- 光電子回折(PED)による表面原子配列の解析
- X線磁気円二色性(XMCD)による元素選択磁気状態の研究
- 低エネルギー電子/光電子顕微鏡(SPELEEM)による電子状態の顕微分析・イメージング
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河村 直己
山神 光平 |
BL26B1 理研 構造ゲノム I
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上野 剛
奥村 英夫
河村 高志
長谷川 和也 |
BL26B2 理研 構造ゲノム II
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上野 剛 |
BL27SU 軟X線光化学
- 高エネルギーブランチ[Bブランチ]
Si(111)結晶分光器により、高エネルギー軟X線(2.1~3.3 keV)を利用
部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
軽元素の蛍光X線分析ならびに元素マッピング測定
µ-ビームを用いた、走査型軟X線顕微分光測定
- 低エネルギーブランチ[Cブランチ]
回折格子分光器により、低エネルギー軟X線(0.17~2.2 keV)を利用
部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
大気圧環境下での軟X線吸収分光測定
循環型溶液セルを用いた、液体試料の軟X線吸収分光測定
軟X線発光分光による価電子帯の電子状態観測
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新田 清文
関澤 央輝
伊奈 稔哲 |
BL28B2 白色X線回折
- 白色X線回折:X線トポグラフィ・エネルギー分散型ひずみ測定
- 高エネルギー(~200 keV)X線マイクロCT
- 高速X線イメージング、高エネルギーX線自動CT計測装置
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星野 真人
梶原 堅太郎
加藤 和男
安武 正展 |
BL28XU 先端蓄電池基盤技術開発(京都大学)
- 二次電池の分析
- in situ、時分割、マイクロビーム
- X線回折、XAFS、硬X線光電子分光
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藤波 想
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BL29XU 理研 物理科学I
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香村 芳樹 |
BL31LEP レーザー電子光II(大阪大学核物理研究センター)
- レーザー逆コンプトン散乱による大強度 GeV 光ビームの生成
- 光ー核子反応、光ー原子核反応によるハドロン物理
- GeV ガンマ線及び変換電子/陽電子を用いた検出器の試験・較正
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石川 貴嗣
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BL32B2 施設開発BM
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大隅寛幸
香村芳樹 |
BL32XU 理研 ターゲットタンパク
- 構造生物学
- 生体高分子X線結晶構造解析
- 微小結晶構造解析
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平田 邦生 |
BL33XU 豊田(豊田中央研究所)
- XAFS、X線小角散乱、イメージング、X線回折、走査型3次元XRD顕微鏡/自動車関連材料の評価解析
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奥村 公平 |
BL33LEP 施設診断ビームライン II
- Meson photoproduction from nucleon and nucleus
- Photoexcitation of hyperons, nucleon resonances, and other exotic states
- Photonuclear reactions
- Beam diagnoses
- Test and calibration of detectors with GeV photon beam
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BL35XU 非弾性・核共鳴散乱
- 高分解能X線非弾性散乱測定(IXS)
meVエネルギー・スケールでの物質のダイナミクス:フォノンや液体やガラスからの素励起
- 核共鳴を利用した研究(NRS)
放射光を用いたメスバウアー分光による電子物性(NFS/EDMS)
核共鳴非弾性散乱(meV領域)及び準弾性散乱(neV-µeV, TDI, レイリー散乱)による原子・分子ダイナミクス
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依田 芳卓
福井 宏之
永澤 延元
萬條 太駿 |
BL36XU 理研 物質科学II
- テーパーアンジュレータ光を用いた時間分解クイックXAFS
- 投影型/走査型/結像型XAFSイメージング
- X線発光分光(XES)
- 時間分解XAFS/XRD同時計測
- ピンクビームを用いた実験
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宇留賀 朋哉
新田 清文
東 晃太朗 |
BL37XU 分光分析
- X線マイクロ・ナノビームを用いた分光分析
走査型X線顕微分光測定
- X線分光イメージング
投影型CT-XAFS
結像型CT-XAFS
- 極微量元素分析
- 高エネルギー蛍光X線分析
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新田 清文
関澤 央輝
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BL38B1 理研 構造生物学 I
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関口 博史
増永 啓康 |
BL38B2 施設診断ビームライン I
- 加速器科学、加速器ビーム診断、加速器コンポーネントのR&D
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正木 満博
田村 和宏 |
BL39XU X線吸収・発光分光
- X線磁気円二色性分光 (XMCD)
- 元素選択的磁化測定 (ESM)
- X線発光分光とその磁気円二色性
- マイクロ/ナノビームを用いたXMCD磁気イメージング、微小領域、微小試料のXMCD およびESM測定
- 100 nm ビームを用いた微小領域のXAFS、化学状態イメージング
- 高圧 (0-180 GPa@室温、0-40 GPa@低温)下でのXAFSおよびXMCD測定
- さまざまな偏光状態を用いたX線分光
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河村 直己
東 晃太朗 |
BL40B2 SAXS BM
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太田 昇
関口 博史 |
BL40XU 高フラックス
- 高速時分割回折および散乱実験
- X線光子相関分光法
- 蛍光X線分析
- マイクロビームを用いた回折および散乱実験
- 微小単結晶構造解析
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関口 博史
福山 祥光
青山 光輝
佐々木 俊之
中村 唯我
一柳 光平
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BL41XU 生体高分子結晶解析I
- 生体高分子X線結晶構造解析
- 微小結晶構造解析
- 超高分解能構造解析
- 単粒子解析(付帯設備のクライオ電子顕微鏡を使用)
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馬場 清喜
村上 博則
増永 拓也
重松 秀樹
長谷川 和也 |
BL43IR 赤外物性
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森脇 太郎
池本 夕佳 |
BL43LXU 理研 量子ナノダイナミクス
- 非共鳴X線非弾性散乱を用いたmeVエネルギースケールでの原子・電子ダイナミクス
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Alfred BARON |
BL44XU 生体超分子複合体構造解析(大阪大学蛋白質研究所)
- 生体超分子複合体の結晶構造解析
膜蛋白複合体、蛋白質複合体、蛋白質・核酸複合体、ウイルスなど
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中川 敦史
山下 栄樹 |
BL44B2 理研 物質科学I
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加藤 健一 |
BL45XU 生体高分子結晶解析II
- 生体高分子X線結晶構造解析
- 微小結晶構造解析
- 自動&ハイスループット測定
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水野 伸宏
仲村 勇樹
坂井 直樹
長谷川 和也 |
BL46XU HAXPES II
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安野 聡
高木 康多
Seo Okkyun |
BL47XU マイクロCT
- 投影型トモグラフィー
- 結像型トモグラフィー
- 走査型X線顕微鏡
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上杉 健太朗
安武 正展
田尻 寛男
梶原 堅太郎
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