大型放射光施設 SPring-8

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ビームライン一覧

ビームライン(BL)の番号順に各BLの対象分野をご紹介します。BL名称をクリックすると、各ビームラインの概要のページにリンクします。

共用ビームライン 共用ビームライン    専用ビームライン 専用ビームライン       理研ビームライン 理研ビームライン       加速器診断 加速器診断   
BL番号と名称 担当者

共用ビームラインBL01B1 XAFS

  • 広エネルギー領域 (3.8 - 113 keV)
  • 希薄・薄膜試料のXAFS
  • クイックスキャンによる時分割XAFS (時分割QXAFS)

伊奈 稔哲

宇留賀 朋哉

加藤 和男

共用ビームラインBL02B1 単結晶構造解析

  • 高分解能データによる精密構造解析
  • 微小単結晶構造解析
  • 外場応答による構造相転移の探索

杉本 邦久

安田 伸広

隅谷 和嗣

共用ビームラインBL02B2 粉末結晶構造解析

  • 結晶性物質における物性に密接に関連した電子密度レベルでの精密構造研究
  • 構造相転移の研究
  • 粉末回折データを用いた構造決定
  • リートベルト法による構造精密化
  • 薄膜構造研究
  • ガス吸着/光励起構造研究

河口 彰吾

杉本 邦久

専用ビームラインBL03XU フロンティアソフトマター開発産学連合(フロンティアソフトマター開発専用ビームライン産学連合体)

  • 有機・高分子薄膜の研究開発
  • ソフトマター・高分子分野におけるバルク、繊維、フィルム材料の研究開発及び製造プロセスの技術革新
  • 大型持込装置を用いた環境制御下における構造変化の追跡
  • Å~μmオーダー領域の同時計測による階層構造変化の追跡

増永 啓康

加部 泰三

共用ビームラインBL04B1 高温高圧

  • 大容量プレスを用いた100 GPa, 3000 Kまでの高温高圧発生
  • 20-150 keVの白色X線を用いたエネルギー分散型粉末X線回折(2θ = 3-20°)
  • 30-60 keVの単色光を用いた二次元X線回折(2θ = <10°)
  • X線吸収イメージング

肥後 祐司

丹下 慶範

共用ビームラインBL04B2 高エネルギーX線回折

  • ガラス、液体、アモルファス物質の構造解析
  • 高圧下のX線回折
  • 超臨界流体の小角散乱

尾原 幸治

今田 沙織

大石 泰生

加速器診断BL05SS 加速器診断

  • 加速器科学
  • 加速器ビーム診断
  • 加速器コンポーネントのR&D
  • 光源開発
  • オートサンプラーを用いた自動蛍光X線分析

<加速器診断について>
高野 史郎

正木 満博

田村 和宏

<利用研究について>
加藤 和男

新田 清文

専用ビームラインBL07LSU 東京大学放射光アウトステーション物質科学(東京大学)

  • 物性物理
  • 物理化学
  • 応用化学
  • 応用物理

松田 巌

原田 慈久

和達 大樹

共用ビームラインBL08W 高エネルギー非弾性散乱

  • 磁気コンプトン散乱測定
  • 高分解能コンプトン散乱測定
  • 高エネルギーX線回折
  • 高エネルギーX線蛍光分析 (XRF)

伊藤 真義

辻 成希

専用ビームラインBL08B2 兵庫県 BM(兵庫県)

  • 広エネルギー範囲の XAFS測定
  • ポリマー、ナノ複合材料評価向け小角X線散乱
  • X線トポグラフィ
  • イメージング
  • 高分解能粉末回折

篭島 靖

横山 和司

桑本 滋生

共用ビームラインBL09XU 核共鳴散乱

  • 核共鳴を利用した物性研究
    放射光を用いたメスバウアー分光による電子物性
    核共鳴非弾性散乱を用いたフォノン物性
  • 核共鳴を利用した原子核物理及びX線光学
    電子遷移に伴う核励起現象
    核共鳴散乱を利用したコヒーレント光学
  • 光電子分光を用いた物性研究
    高エネルギー分解能による深さ電子状態分析
    ダイヤモンド位相子を用いた偏光依存光電子分光
    極低温8K下の光電子計測による物性科学および応用材料科学

依田 芳卓

筒井 智嗣

池永 英司

共用ビームラインBL10XU 高圧構造物性

  • 高圧下 (DACを使用) での結晶構造物性及び相転移
  • 地球・惑星科学

平尾 直久

今田 沙織

大石 泰生

専用ビームラインBL11XU QST 極限量子ダイナミクスI(量子科学技術研究開発機構)

  • 核共鳴散乱
  • III-V族半導体結晶成長のその場観察
  • 共鳴X線非弾性散乱
  • 高輝度・高エネルギーXAFS構造解析

三井 隆也

塩飽 秀啓

石井 賢司

高橋 正光

齋藤 寛之

専用ビームラインBL12XU NSRRC ID(台湾 NSRRC)

  • 高分解能非共鳴X線非弾性散乱 (NRIXS) による固体内の素励起、準粒子の挙動, 電子相関効果等の研究
  • Low-Z物質 (有機化合物、生体物質等) の吸収端 (C,O等) における高分解能X線ラマン散乱による局所電子構造の研究
  • 高圧下での相転移の研究
  • 高分解能X線発光分光による物質の電子状態の研究
  • X線分光学の研究

Ku-Ding Tsuei 

平岡 望

専用ビームラインBL12B2 NSRRC BM(台湾 NSRRC)

  • X線吸収分光
  • 粉末X線回折
  • 高分解能X線散乱
  • 蛋白質構造解析

石井 啓文

共用ビームラインBL13XU 表面界面構造解析

  • 表面構造解析
  • 表面界面・薄膜・ナノスケール材料の原子レベルでの構造解析
  • 真空中の固体表面、溶液中の固体表面、固体の界面におけるナノスケール構造の成長過程の解析
  • マイクロビームを用いた局所構造解析

田尻 寛男

今井 康彦

隅谷 和嗣

専用ビームラインBL14B1 QST 極限量子ダイナミクスII(量子科学技術研究開発機構)

  • 高圧科学
  • 表面科学
  • XAFS (X線吸収微細構造)
  • PDF (2体相関分布関数)
  • 時分割エネルギー分散型XAFS (DXAFS)

齋藤 寛之

米田 安宏

共用ビームラインBL14B2 産業利用II

  • 広帯域XAFS測定(3.8-72keV)
  • 希薄・薄膜試料のXAFS測定
  • クイックスキャンによる時分割XAFS測定

本間 徹生

大渕 博宣

専用ビームラインBL15XU 広エネルギー帯域先端材料解析(物質・材料研究機構)

  • 先端材料の高精度解析  
  • 高エネルギーX線による光電子分光  
  • 高精度X線粉末回折

勝矢 良雄

専用ビームラインBL16XU サンビームID(産業用専用ビームライン建設利用共同体)

  • ULSI、磁気・光記録および画像デバイス用薄膜材料、二次電池、燃料電池、触媒材料、機能性材料、構造材料などの評価・解析

淡路 直樹

専用ビームラインBL16B2 サンビームBM(産業用専用ビームライン建設利用共同体)

  • Characterization of industrial materials, such as metal and oxide films, semiconductor crystals, etc., by XAFS, topography and other methods

工藤 喜弘

理研ビームラインBL17SU 理研 物理科学III 

  • 高分解能光電子分光--- A2 station
    軟X線を用いた角度分解光電子分光 (ARPES) による ”バルク”のバンド構造の観測
    レーザーMBE法により製膜した強相関遷移金属酸化物の ARPES in situ 測定
  • 分光型光電子・低エネルギー電子顕微鏡--- Ac station
    イメージモード、回折モード、分散モード等による微小領域(数十nm)の構造 および電子状態観察
  • 液体および生体試料のための軟X線発光分光 --- A3 station
    軟X線発光分光による液体及び生体試料の電子構造の研究
  • 軟X線回折実験 --- B1 station
    高輝度放射光を用いた軟X線回折実験による長周期秩序物質の電子構造の研究
  • ユーザー持ち込みエリア--- Bc station
    集光ビームが利用可能

大浦 正樹

大橋 治彦

大河内 拓雄

理研ビームラインBL19LXU 理研 物理科学II

  • 当該高輝度光源を必要とするあらゆる分野

玉作 賢治

共用ビームラインBL19B2 産業利用I 

  • 残留応力測定、 薄膜構造解析、表面、界面
  • 粉末X線回折
  • X線イメージング、X線トポグラフィ
  • 小角X線散乱(極小角散乱)

大坂 恵一

高垣 昌史

三浦 圭子

渡辺 剛

共用ビームラインBL20XU 医学・イメージングII

  • X線顕微イメージング
    マイクロビーム/走査型X線顕微鏡
    投影型マイクロCT
    位相コントラストマイクロCT
    X線ホログラフィー
    コヒーレントX線光学
    集光/結像光学系をはじめとする各種X線光学系や光学素子の開発研究
  • 医学応用
    屈折コントラストイメージング
    位相コントラストCT
  • 極小角散乱

竹内 晃久

上椙 真之

共用ビームラインBL20B2 医学・イメージングI

  • micro-radiography, micro-angiography, micro-tomography, refraction-contrast imaging などが主として利用されている技術である。医学利用研究を目的とした、小動物の実験を実施する事も可能
  • 光学素子の評価やX線イメージングの基本技術の研究開発

上杉 健太朗

梅谷 啓二

星野 真人

専用ビームラインBL22XU JAEA 重元素科学I(日本原子力研究開発機構)

  • 高圧下の物質科学
  • 共鳴X線回折 (RI実験棟での研究)
  • 残留応力分布測定

大和田 謙二

稲見 俊哉

綿貫 徹

菖蒲 敬久

塩飽 秀啓

専用ビームラインBL23SU JAEA 重元素科学II(日本原子力研究開発機構)

  • 超音速分子線を用いた表面化学
  • 生物物理学的分光
  • 光電子分光 (RI棟)
  • 磁気円二色性 (RI棟)

藤森 伸一

竹田 幸治

専用ビームラインBL24XU 兵庫県 ID(兵庫県)

  • 微小タンパク結晶の構造解析とその産業利用
  • 金属材料の結晶解析とその産業利用(表面解析、歪み測定)
  • X線顕微鏡の産業応用(マイクロまたはナノビーム、高分解能イメージング)

篭島 靖

津坂 佳幸

高野 秀和

共用ビームラインBL25SU 軟X線固体分光

  • 光電子分光(PES)、角度分解光電子分光(ARPES)による電子状態・バンド構造の研究
  • 光電子回折(PED)による表面原子配列の解析
  • 光電子顕微鏡(PEEM)による磁区・局所電子状態観測、磁気ダイナミクス解析
  • X線磁気円二色性(XMCD)による元素選択磁気状態の研究、ナノビームを利用した磁気状態解析

中村 哲也

室 隆桂之

大河内 拓雄

小谷 佳範

理研ビームラインBL26B1/BL26B2 理研 構造ゲノム I & II

  • X線結晶解析法に基づいた構造ゲノム研究

上野 剛

共用ビームラインBL27SU 軟X線光化学

  • 高エネルギーブランチ[Bブランチ]
    Si(111)結晶分光器により、高エネルギー軟X線(2.1~3.3keV)を利用
    部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
    軽元素の蛍光X線分析ならびに元素マッピング測定
    μ-ビームを用いた、走査型軟X線顕微分光測定
  • 低エネルギーブランチ[Cブランチ]
    回折格子分光器により、低エネルギー軟X線(0.17~2.2 keV)を利用
    部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
    大気圧環境下での軟X線吸収分光測定
    循環型溶液セルを用いた、液体試料の軟X線吸収分光測定
    軟X線発光分光による価電子帯の電子状態観測

為則 雄祐

鶴田 一樹

共用ビームラインBL28B2 白色X線回折

  • 白色X線回折:X線トポグラフィ・エネルギー分散型ひずみ測定
  • 時分割エネルギー分散型XAFS (DXAFS):化学的・物理的反応過程の研究
  • 医学生物応用:放射線治療関連研究・生体イメージング

星野 真人

梶原 堅太郎

加藤 和男

梅谷 啓二

専用ビームラインBL28XU 革新型蓄電池先端科学基礎研究(京都大学)

  • 二次電池の分析
  • in situ、時分割、マイクロビーム
  • X線回折、X線吸収微細構造、HAXPES

河口 智也
森田 将史

理研ビームラインBL29XU 理研 物理科学I

  • X線光学、特にコヒーレントX線光学

香村 芳樹

専用ビームラインBL31LEP レーザー電子光II(大阪大学核物理研究センター)

  • レーザー逆コンプトン散乱による大強度 GeV 光ビームの生成
  • 光ー核子反応、光ー原子核反応によるハドロン物理
  • GeV ガンマ線及び変換電子/陽電子を用いた検出器の試験・較正

與曽井 優

鈴木 伸介

理研ビームラインBL32B2 理研

  •  

 

理研ビームラインBL32XU 理研 ターゲットタンパク

  • 構造生物学
  • 生体高分子X線結晶構造解析
  • 超微小蛋白質結晶構造解析

平田 邦生

専用ビームラインBL33XU 豊田(豊田中央研究所)

  • 自動車産業で使われている各種材料の評価、解析、時分割XAFS

吉田 友幸

専用ビームラインBL33LEP レーザー電子光(大阪大学核物理研究センター)

  • Meson photoproduction from nucleon and nucleus
  • Photoexcitation of hyperons, nucleon resonances, and other exotic states
  • Photonuclear reactions
  • Beam diagnoses
  • Test and calibration of detectors with GeV photon beam

中野 貴志

大橋 裕二

共用ビームラインBL35XU 高分解能非弾性散乱

  • meVエネルギー・スケールでの物質のダイナミクス:フォノンや液体やガラスからの素励起
  • X線非弾性散乱(IXS)や核共鳴散乱(NRS)を含む実験手法
  • KBミラーを使って直径20ミクロンの集光ビームを使ったX線非弾性散乱

筒井 智嗣

内山 裕士

石川 大介

専用ビームラインBL36XU 先端触媒構造反応リアルタイム計測(電気通信大学)

  • 燃料電池電極における触媒反応ダイナミクスに対するその場解析
  • 計測手法
    時間分解XAFS
    2次元空間分解XAFS
    深さ分解XAFS
    3次元ラミノグラフィXAFS
    雰囲気制御型硬X線光電子分光

宇留賀 朋哉

関澤 央輝

共用ビームラインBL37XU 分光分析

  • X線マイクロ・ナノビームを用いた分光分析
  • 極微量元素分析
  • 高エネルギー蛍光X線分析

寺田 靖子

新田 清文

共用ビームラインBL38B1 構造生物学 III

  • タンパク質のルーチン結晶解析

馬場 清喜

奥村 英夫

仲村 勇樹

Nipawan

加速器診断BL38B2 加速器診断

  • 加速器科学
  • 加速器ビーム診断
  • 加速器コンポーネントのR&D
  • MeV γ線光子の生成

正木 満博

田村 和宏

共用ビームラインBL39XU 磁性材料

  • X線磁気円二色性分光 (XMCD)
  • 元素選択的磁化測定 (ESM)
  • X線発光分光とその磁気円二色性
  • 多層膜等のX線共鳴磁気散乱
  • サブミクロンビームを用いたXMCD磁気イメージング、微小領域、微小試料のXMCD およびESM測定
  • 100 nm ビームを用いた微小領域のXAFS、化学状態イメージング
  • 高圧 (0-100 GPa@室温、0-20 GPa@低温)下でのXAFSおよびXMCD測定
  • さまざまな偏光状態を用いたX線分光

鈴木 基寛

河村 直己

水牧 仁一朗

共用ビームラインBL40B2 構造生物学 II

  • 非結晶小角広角散乱回折実験

太田 昇

関口 博史

共用ビームラインBL40XU 高フラックス

  • 高速時分割回折および散乱実験
  • X線光子相関分光法
  • 蛍光X線分析
  • マイクロビームを用いた回折および散乱実験
  • 時分割クイックXAFS(時分割QXAFS)

関口 博史

安田 伸広

青山 光輝

岩本 裕之

共用ビームラインBL41XU 構造生物学 I

  • 生体高分子X線結晶構造解析
  • 超高分解能構造解析
  • 微小結晶構造解析

長谷川 和也

水野 伸宏

河村 高志

村上 博則

共用ビームラインBL43IR 赤外物性

  • 赤外顕微分光

森脇 太郎

池本 夕佳

理研ビームラインBL43LXU 理研 量子ナノダイナミクス

  • 電子励起と原子ダイナミクス

Alfred BARON

専用ビームラインBL44XU 生体超分子複合体構造解析(大阪大学蛋白質研究所)

  • 生体超分子複合体の結晶構造解析
    膜蛋白複合体、蛋白質複合体、蛋白質・核酸複合体、ウイルスなど

中川 敦史

鈴木 守

山下栄樹

理研ビームラインBL44B2 理研 物質科学

  • 機能性物質における電子密度レベルでの構造と物性との相関研究

加藤 健一

理研ビームラインBL45XU 理研 構造生物学 I

  • SAXSステーション
    種々の条件下でのタンパク質、核酸溶液、膜、筋肉やミセル系など非結晶生物関連試料の構造を小角散乱・回折手法を用いて研究する
  • SWAXSステーション
    ポリマー、脂質、複雑液体などのソフトマテリアルの構造を中・広角での散乱・回折手法を用いて研究する

引間 孝明

共用ビームラインBL46XU 産業利用 lll

  • X線回折測定およびX線反射率測定による薄膜試料の構造評価
  • 残留応力測定
  • 時分割X線回折実験
  • 硬X線光電子分光

小金澤 智之

安野 聡

梶原 堅太郎

共用ビームラインBL47XU 光電子分光・マイクロCT

  • 硬X線光電子分光
  • 投影型トモグラフィー
  • 結像型トモグラフィー
  • 走査型X線顕微鏡 

上杉 健太朗

池永 英司

青山 光輝

保井 晃

最終変更日 2016-07-11 13:36