• 広エネルギー領域 (3.8 - 113 keV)
• 希薄・薄膜試料のXAFS
• クイックスキャンによる時分割XAFS (時分割QXAFS)

• 高分解能データによる精密構造解析
• 微小単結晶構造解析
• 外場応答による構造相転移の探索

• 結晶性物質における物性に密接に関連した電子密度レベルでの精密構造研究
• 構造相転移の研究
• 粉末回折データを用いた構造決定
• リートベルト法による構造精密化
• その場・オペランド粉末構造計測（ガス溶媒雰囲気、光照射下など）

• 有機・高分子薄膜の研究開発
• ソフトマター・高分子分野におけるバルク、繊維、フィルム材料の研究開発及び製造プロセスの技術革新
• 大型持込装置を用いた環境制御下における構造変化の追跡
• Å～μmオーダー領域の同時計測による階層構造変化の追跡

• 大容量プレスと電気抵抗加熱による高温高圧下その場測定
• 20-150 keVの白色X線を用いたエネルギー分散型粉末X線回折（2θ = 3-16°）
• 30-60 keVの単色X線を用いた二次元X線回折（2θ = <10°）
• X線吸収イメージング
• 高温高圧下での弾性波速度測定
• 高温高圧環境下での変形実験

• ガラス、液体、アモルファス物質の構造解析
• 61, 113 keVの高エネルギーX線を用いたX線回折

• 小角・広角X線散乱による構造解析
• 光源・光学系開発
• 放射光計測技術開発

BL07LSU 施設開発ID II

• 物性物理
• 物理化学
• 応用化学
• 応用物理

• 磁気コンプトン散乱測定
• 高分解能コンプトン散乱測定
• 高エネルギーX線回折
• 高エネルギーX線蛍光分析 (XRF)
• 時分割PDF解析

• 小角Ｘ線散乱
• X線イメージング
• X線CT
• X線トポグラフィー

• 高エネルギー分解能による埋もれた界面の電子状態解析
• 吸収端を利用した共鳴励起による元素・軌道選択電子状態解析（共鳴HAXPES）
• 集光ビーム利用と角度分解測定による局所3次元空間分解電子状態解析
• ダイヤモンドX線移相子を用いた偏光依存光電子分光
• 低温下の光電子計測による物性科学および応用材料科学

• ダイヤモンドアンビルセルを用いた高圧下でのＸ線結晶構造解析
• 複合極限環境下におけるその場/オペランド構造変化探索と圧縮挙動解明
• 高圧地球科学・惑星科学
• 高圧物質科学

• メスバウア分光
• 共鳴非弾性X線散乱
• X線発光分光
• 表面X線回折（III-V族半導体結晶成長のその場観察）

• 高分解能非共鳴X線非弾性散乱 (NRIXS) による固体内の素励起、準粒子の挙動, 電子相関効果等の研究
• Low-Z物質 (有機化合物、生体物質等) の吸収端 (C,O等) における高分解能X線ラマン散乱による局所電子構造の研究
• 高圧下での相転移の研究
• 高分解能X線発光分光による物質の電子状態の研究
• X線分光学の研究

• X線吸収分光
• 粉末X線回折
• 高分解能X線散乱
• 蛋白質構造解析

• 材料構造解析、プロセス観察
• 薄膜・バルク材料・ナノスケール材料の原子レベルでの構造解析
• 高分解能粉末回折
• 高エネルギーX線回折
• in-situ/operando環境下でのX線回折
• ナノビームX線回折を用いた局所構造解析

• 水素材料を中心とした高温高圧下X線回折
• 希薄試料XAFS
• 時分割エネルギー分散型XAFS
• 生物照射研究

• 広帯域XAFS測定（3.8-72keV）
• 希薄・薄膜試料のXAFS測定
• クイックスキャンによる時分割XAFS測定
• X線イメージング

BL15XU 理研 物質科学III

• 硬X線光電子分光、X線回折、X線マイクロビーム分析、蛍光X線分析／産業用材料・デバイスの評価解析

• XAFS、X線回折、X線イメージング、トポグラフィ／産業用材料・デバイスの評価解析

• 走査型軟Ｘ線分光顕微鏡　--- A3 station
  低真空〜He大気圧下における試料表面の顕微分光観察
  局所領域の蛍光Ｘ線分析、元素分布マッピング、軟Ｘ線吸収分光が可能
• ユーザー持ち込みエリア--- Bc station 集光ビームが利用可能
  汎用型光電子顕微鏡を用いた電子／磁気状態イメージング（分解能 100 nm未満）
  およびその時間分解測定
  汎用型光電子顕微鏡との置き換えによるユーザー持ち込み装置実験も可能

• 当該高輝度光源を必要とするあらゆる分野

• 残留応力測定、 薄膜構造解析、表面、界面
• 粉末X線回折
• X線トポグラフィ
• 小角X線散乱（極小角散乱）

• Ⅹ線マイクロ/ナノイメージング：マイクロCT、ナノCT、屈折・位相コントラストイメージング、Ⅹ線回折CT（XRD-CT）、マイクロビーム/走査型顕微鏡
• 各種Ⅹ線光学系・光学素子の研究開発・評価、コヒーレント光学実験
• 極小角散乱

• X線マイクロCT/ラミノグラフィ、位相CT、リアルタイムイメージング（吸収・屈折コントラスト）、高速度イメージング、微小血管造影、小動物を用いた実験
• 光学素子の評価、X線イメージングの基本技術の研究開発

• XAFS
• HAXPES
• 残留応力測定
• 高温高圧X線回折・X線吸収
• 水素雰囲気下での原子二体分布関数（PDF）測定
• コヒーレントX線散乱・共鳴X線回折

• 超音速分子線を用いた表面化学
• 光電子分光
• 磁気円二色性
• 生物物理分光

• 放射光利用の産業応用を主軸としたビームライン運営
• B1ステーション
  X線マイクロ～ナノビーム応用（走査型顕微鏡、蛍光分析）
  X線顕微鏡を用いたイメージング実験（ナノイメージング、CT）
• B2ステーション
  高平行X線マイクロビーム応用（高精度回折計）
  明視野X線トポグラフィ

• 光電子分光(PES)、角度分解光電子分光(ARPES)による電子状態・バンド構造の研究
• 光電子回折(PED)による表面原子配列の解析
• X線磁気円二色性(XMCD)による元素選択磁気状態の研究
• 低エネルギー電子/光電子顕微鏡（SPELEEM）による電子状態の顕微分析・イメージング

• X線結晶解析法に基づいた構造生物学研究

• X線結晶解析法に基づいた構造生物学研究

• 高エネルギーブランチ［Ｂブランチ］
  Si(111)結晶分光器により、高エネルギー軟X線（2.1～3.3 keV）を利用
  部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
  軽元素の蛍光X線分析ならびに元素マッピング測定
  µ-ビームを用いた、走査型軟X線顕微分光測定
• 低エネルギーブランチ［Ｃブランチ］
  回折格子分光器により、低エネルギー軟X線（0.17～2.2 keV）を利用
  部分蛍光収量法による、希薄試料の軟X線吸収分光測定
  大気圧環境下での軟X線吸収分光測定
  循環型溶液セルを用いた、液体試料の軟X線吸収分光測定
  軟X線発光分光による価電子帯の電子状態観測

• 白色X線回折：X線トポグラフィ・エネルギー分散型ひずみ測定
• 高エネルギー（~200 keV）X線マイクロCT
• 高速X線イメージング

• 二次電池の分析
• in situ、時分割、マイクロビーム
• X線回折、XAFS、硬X線光電子分光

• コヒーレントX線光学

• レーザー逆コンプトン散乱による大強度 GeV 光ビームの生成
• 光ー核子反応、光ー原子核反応によるハドロン物理
• GeV ガンマ線及び変換電子／陽電子を用いた検出器の試験・較正

BL32B2 施設開発BM

• 放射光計測技術開発、粉末X線回折、X線吸収分光

• 構造生物学
• 生体高分子X線結晶構造解析
• 微小結晶構造解析

• XAFS、X線小角散乱、イメージング、X線回折、走査型3次元XRD顕微鏡/自動車関連材料の評価解析

BL33LEP 施設診断ビームライン II

• Meson photoproduction from nucleon and nucleus
• Photoexcitation of hyperons, nucleon resonances, and other exotic states
• Photonuclear reactions
• Beam diagnoses
• Test and calibration of detectors with GeV photon beam

• 高分解能X線非弾性散乱測定（IXS）
  meVエネルギー・スケールでの物質のダイナミクス：フォノンや液体やガラスからの素励起
• 核共鳴を利用した研究（NRS）
  放射光を用いたメスバウアー分光による電子物性（NFS/EDMS）
  核共鳴非弾性散乱（meV領域）及び準弾性散乱（neV-µeV, TDI, レイリー散乱）による原子・分子ダイナミクス

• テーパーアンジュレータ光を用いた時間分解クイックXAFS
• 投影型/走査型/結像型XAFSイメージング
• X線発光分光(XES)
• 時間分解XAFS/XRD同時計測
• ピンクビームを用いた実験

• X線マイクロ・ナノビームを用いた分光分析
  走査型X線顕微分光測定
• X線分光イメージング
  投影型CT-XAFS
  結像型CT-XAFS
• 極微量元素分析
• 高エネルギー蛍光X線分析

• 小角X線散乱

BL38B2 施設診断ビームライン I

• 加速器科学、加速器ビーム診断、加速器コンポーネントのR&D

• X線磁気円二色性分光 (XMCD)
• 元素選択的磁化測定 (ESM)
• X線発光分光とその磁気円二色性
• マイクロ/ナノビームを用いたXMCD磁気イメージング、微小領域、微小試料のXMCD およびESM測定
• 100 nm ビームを用いた微小領域のXAFS、化学状態イメージング
• 高圧 (0-100 GPa＠室温、0-40 GPa＠低温)下でのXAFSおよびXMCD測定
• さまざまな偏光状態を用いたX線分光

• 非結晶小角広角散乱回折実験

• 高速時分割回折および散乱実験
• X線光子相関分光法
• 蛍光X線分析
• マイクロビームを用いた回折および散乱実験
• 微小単結晶構造解析

• 生体高分子X線結晶構造解析
• 微小結晶構造解析
• 超高分解能構造解析
• 単粒子解析（付帯設備のクライオ電子顕微鏡を使用）

• 赤外顕微分光

• 非共鳴X線非弾性散乱を用いたmeVエネルギースケールでの原子・電子ダイナミクス

• 生体超分子複合体の結晶構造解析
  膜蛋白複合体、蛋白質複合体、蛋白質・核酸複合体、ウイルスなど

• 全散乱による周期・非周期系の構造解析

• 生体高分子X線結晶構造解析
• 微小結晶構造解析
• 自動&ハイスループット測定

• 硬X線光電子分光法
• 大気圧硬X線光電子分光法

• 投影型トモグラフィー
• 結像型トモグラフィー
• 走査型X線顕微鏡